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怎樣安裝浮球開關(guān)浮球開關(guān)的安裝應(yīng)注意哪些問題1、安裝位置應(yīng)遠(yuǎn)離進(jìn)水口，否則開關(guān)會因進(jìn)水口的波動而造成誤動作。2、若開關(guān)裝置于容器池壁，可加裝L型角鋼支架。3、若開關(guān)裝置于攪拌區(qū)域，可安裝防波管或防波擋板。4、選擇管的內(nèi)徑大于浮球直徑的法蘭連接管。5、配線時建議使用多蕊電纜。6、被控制線路負(fù)載必須與浮球開關(guān)接點(diǎn)容量相匹配。7、被測液體的比重必須大于浮球比重。8、浮球的動作點(diǎn)已按客戶訂貨要求在出廠時調(diào)整好，請不要隨意調(diào)整浮球位置。液位開關(guān)接點(diǎn)保護(hù)線路當(dāng)浮球開關(guān)使用在有馬達(dá)、繼電器...

關(guān)于溫度均勻度的理解為了更正確地模擬產(chǎn)品在自然界所遭受的實(shí)際環(huán)境狀況，在環(huán)境試驗(yàn)中必須保證被試產(chǎn)品的周邊處在同一溫度環(huán)境條件下，為此，必須對試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度梯度和溫度的波動度加以限制。在國軍標(biāo)GJB150.1-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法總則中明確規(guī)定“試驗(yàn)樣品附近測量系統(tǒng)的溫度應(yīng)在試驗(yàn)溫度的±2℃以內(nèi)，其溫度工不超過1℃/m或總的zui大值為2.2℃（試驗(yàn)樣品不工作）”。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度不正常解決方法一、恒溫恒濕試驗(yàn)箱.在高溫試驗(yàn)中，如溫度變化達(dá)不到試驗(yàn)溫度值時，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排除故障。如溫度升得很慢，就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常，反之，就檢查風(fēng)循環(huán)的電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升，過溫保護(hù)，那么，控制器出故障，須更換控制儀表。

恒溫恒濕箱加濕系統(tǒng)首先要說明恒溫恒濕箱必須要加純凈水，具體如下：1、因?yàn)橛盟訚窳Ｗ颖容^大，如果長時間對濕度有要求，那么對濕度傳感器的使用壽命會有影響，（濕度傳感器：一般分為電容傳感器、霍尼非爾傳感器（這個好一點(diǎn)）但是它們的PCB板有些線路沒有用隔水材料或是防氧化材料做的，如果水質(zhì)差，會使?jié)穸葌鞲衅鞫搪贰?、加濕器（一般用戶用亞都加濕器）都有個水位開關(guān)，水位開關(guān)的浮子中間為磁力棒，浮子不是仿氧化材料做的。所以時間一久，或者經(jīng)常不換水會造成水位開關(guān)短路，會造成無法加濕或者一直加...

為什么要做老化試驗(yàn)產(chǎn)品老化的意義：隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時,因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類，*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷...

如何保養(yǎng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱都要使用，用的過程中，有很多注意事項(xiàng)，也要經(jīng)常需要保養(yǎng)。這樣可以延長試驗(yàn)箱，試驗(yàn)機(jī)的使用壽命。下面介紹注意事項(xiàng)及恒溫恒濕試驗(yàn)箱保養(yǎng)須知:1做試驗(yàn)之前一定要檢查積水筒水位不可過高，也不能太少。使水溢出積水筒或過低使?jié)袂驕y試布吸水不正常，影響濕球的準(zhǔn)確性水位大約保持六分滿即可。積水筒水位之調(diào)整，可調(diào)整積水盒的高低。差不多每做完兩三次試驗(yàn)就需要檢查一下，并加水。可以看前面的水份管進(jìn)行補(bǔ)水，沒有水后機(jī)器會報警，而停止工作。2本機(jī)于機(jī)側(cè)附有測試孔，可...

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)目錄GB/T2421－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則GB/T2422－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語GB/T2423.1－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.2－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.3－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423.41993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法GB...